耐久性测试项目(Endurancetest items )

Endurance cycling test, Data retention test
①周期耐久性测试(EnduranceCycling Test )
目的:评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能
测试方法:将数据写入memory的存储单元,在擦除数据,重复这个过程多次
测试条件:室温,或者更高,每个数据的读写次数达到100k~1000k
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:MIT-STD-883E Method 1033
②数据保持力测试(Data Retention Test)


目的:在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失
测试方法:在高温条件下将数据写入memory存储单元后,多次读取验证单元中的数据
测试条件:150℃
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:MIT-STD-883E Method 1008.2;MIT-STD-883E Method 1033
在了解上述的IC测试方法之后,IC的设计制造商就需要根据不用IC产品的性能,用途以及需要测试的目的,选择合适的测试方法,最大限度的降低IC测试的时间和成本,从而有效控制IC产品的质量和可靠度。

产品可靠性

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